型號

JY-225 TK –（B、C、D、E、L）

內箱尺寸

W*D*H（cm）

60*50*75

外箱尺寸

W*D*H（cm）

113*98*187

溫度范圍

B:0～150℃   C:-20～150℃  D:-36～150℃   E:-60～150℃   L:-70～150℃

溫度顯示精度

0.1℃

溫度穩定度

±1℃

型號解釋

T代表高低溫試驗箱(xiang)

控制(zhi)器(qi)

微電(dian)腦數(shu)顯(xian)溫度儀(yi)表

升(sheng)降溫(wen)速率

每分鐘(zhong)0.7℃~1.5℃ （非線性空載平(ping)均）

主要組(zu)件

試(shi)驗箱箱體、加溫系(xi)(xi)(xi)統、冷凍系(xi)(xi)(xi)統、電(dian)氣控(kong)制系(xi)(xi)(xi)統、保(bao)護系(xi)(xi)(xi)統

試(shi)驗箱(xiang)箱(xiang)體

內(nei)箱材質：ＳＵＳ＃３０４耐(nai)熱(re)耐(nai)寒鏡(jing)面(mian)不(bu)銹鋼板.

外箱材質：高張力(li)鋼板(ban),靜電吸附烤漆處理.

箱(xiang)門密封采(cai)用精制硅橡膠，從而(er)在高(gao)、低溫下不存(cun)在老(lao)化及硬化現象

加溫系統

采(cai)用(yong) U 型(xing)鰭片式高(gao)速加溫電(dian)熱器

高溫*獨立(li)系統，不影響濕熱試驗.

冷凍系統

冷凍采(cai)用法國進口泰康全密閉式(shi)壓縮機.

*電磁(ci)閥(fa)；膨脹(zhang)閥(fa),干燥過濾器等冷凍組件.

電氣控制系統

溫度直讀微電腦(nao)數(shu)顯示控(kong)制(zhi)器控(kong)制(zhi)。

采用智能型(xing)微(wei)電腦(nao)PID+SSRCR可自動正逆雙向同步(bu)輸出,控制精度精確.

信號輸入：鉑金PT 100

工作環境：≤95.0%RH  -10.0∽70.0℃

溫度(du)測量、控制(zhi)范圍： -99.0∽200.0℃精度(du)≤±0.2℃

輸出(chu)(chu)方式：正輸出(chu)(chu)或反(fan)輸出(chu)(chu)

主輸出:DC  12V  PID輸出（時(shi)間(jian)分(fen)隔）

TO1為溫度(du)輸出       輔助輸出:T02、TO3、HO2、 HO3無(wu)源接點AC 220V/5A（或相對）

外(wai)部保(bao)護(hu)(hu):獨(du)立于主控制器(qi)之電(dian)子式超(chao)溫(wen)保(bao)護(hu)(hu)裝置,可設定受測對象之溫(wen)度上(shang)限保(bao)護(hu)(hu),以達多重保(bao)護(hu)(hu)之功能.

顯示(shi)切換(huan):;LED數碼管顯示(shi),,并具備(bei)PID自動演算功(gong)能.

保護系統

附有無熔絲保護開關NFB.

附機械式(shi)超(chao)溫保護(hu)裝置.

冷凍壓(ya)縮(suo)機過負載保護(hu)裝置.

電(dian)流超載保護(hu)裝置.

停電記憶保護裝置.  

故障指示顯示  

附電子式超溫保護裝(zhuang)置(zhi).

附(fu)短路(lu)保險絲.

滿足(zu)標(biao)準

GB/T2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法(fa)

GB/T2423.2-2001 試(shi)驗B：高溫試(shi)驗方(fang)法(fa)

GB10589低溫試驗箱技術條件

GB11158高溫試驗箱技術(shu)條件

GJB150.3-1986   高溫試(shi)驗

GJB150.4-1986   低溫試驗